(3)背景對測溫的影響。在用紅外熱成像系統測量物體溫度時，探測器接受的不僅有被測物體表面投射到響應平面上的輻射能，還可能有背景(即周圍環境)投向物體表面被物體表面反射的輻射能，以及背景投向物體表面并透過物體表面的輻射能。后兩部分的輻射能會直接影響到測溫的準確度。顯然，只有物體為絕對黑體，即背景入射到被測物體的輻射能全部被吸收，既無反射，又無透射，背景對測溫的影響才減至零;而且，背景溫度越高，對測溫的影響也越大。此外，發射率低的物體比發射率高的物體受背景溫度的影響更大。因此，被測物體表面若發射率低，而被測溫度又和背景溫度相差不大時，就會引起很大的測溫誤差。

通常在用紅外熱成像系統測溫時，有以下幾種情況：

1)被測物體的溫度與背景相同，這時只要知道被測物體的發射率，便可將背景的輻射能扣除，直接得到被測物體的真實溫度，被測物體的發射率越高，背景溫度的影響越小。

2)被測物體發射率較低，背景溫度與紅外熱成像儀相同，此時測量和計算結果也會是準確的。

3)被測物體發射率較低，背景溫度高于紅外熱成像儀溫度，這時所測得的溫度將高于物體的真實溫度，即使背景溫度低于被測物體溫度，所測溫度也金有較大誤差。為了消除背景溫度對測溫的影響，紅外熱成像系統應有背景溫度補償功能，通常有兩種補償方法：

1)以背景溫度不變為前提，進行補償，這種補償比較簡單，只要知道背景溫度，通過系統軟件的計算，即可得到正確的測量值。這種補償只適于背景溫度變化不大的情況，補償時，對背景溫度的變化取平均值。

2)實時補償，當背景溫度隨時間變化很大、很快時，使用另外一個專測背景溫度的傳感器，再通過軟件進行實時補償。

(4)大氣對測溫的影響。被測物體輻射的能量必須通過大氣才能到達紅外熱成像，由于大氣中某些成分對紅外輻射能的吸收作用，會減弱由被測物體到探測器的紅外輻射能，引起測溫誤差。另外，大氣本身的發射率也將對測量產生影響。為此，除了充分利用“大氣窗口”以減少大氣對輻射能的吸收外，還應根據輻射能在氣體中的衰減規律，即貝爾(Beer)定律，在紅外熱成像儀的計算軟件中對大氣的影響予以修正。

(5)工作波長的選擇。在用紅外熱成像儀測量物體表面溫度時，選擇工作波長是非常重要的。選擇工作波長的依據是測量溫度范圍、被測物體的發射率、大氣傳輸的影響。

1)依據測溫范圍選擇工作波長。根據有關輻射的知識，物體的溫度越高，輻射的能量越大，且峰值波長隨著溫度的升高將向短波方向移動，因此從能量利用的角度考慮，高溫測量一般選用短波，低溫測量選擇長波，中溫測量波長選擇介于兩者之間。從普朗克定律可看出另一種情況，即峰值波長右側的能量占總能量的75%左右，左側只占總能量的25%左右，如果采用寬波段測溫，似乎選用峰值右側的波段可能能量更大些。實際上，因為紅外輻射測溫還有一個更重要的因素要考慮，就是能量隨溫度的變化率，這個數值越大，測溫的靈敏度越高，在峰值波長的左邊能量隨溫度的變化率較大，因此選用峰值左邊的波段較為合適。

2)依據被測物體的發射率選擇工作波段。由于被測物體是多種多樣的，因此某一種紅外測溫裝置不可能同時滿足所有被測物體的要求，對于發射率既隨溫度變化又隨波長變化的物體，其工作波段的選擇不能只依據溫度范圍，而主要依據發射率的波長隨溫度的變化情況。例如，高分子塑料在波段3.43um或7.9um處，玻璃在波段5um處，只含C02和NO的清潔火焰在4.5um處均有較大的發射率，為了測量這些對象的溫度，就要選用這些具有大發射率的波段。

3)依據大氣窗口選擇工作波段。為了減少輻射在大氣中的衰減，工作波段應選擇大氣窗口，特別是對長距離的測量，如從衛星處探測地面輻射的遙感，更是如此。當然對一些特殊場合，如測量現場含有大量的水蒸氣，則工作波段應特別避開水蒸氣的幾個吸收波段。在選用紅外熱成像儀或紅外輻射儀時，應注意生產廠家所提供的工作波段。

5.紅外探測器的制冷裝置

為了消除背景噪聲和提高探測器的靈敏度，探測器要求配置制冷裝置，不同的探測器要求的制冷溫度也不同，如對銻化銦、碲鎘汞探測器，其要求的制冷溫度為77K。獲得制冷的方法主要有：

(1)把探測器置于杜瓦瓶內，然后向瓶內直接灌液氮。

(2)使用高純壓縮空氣或氮氣，通過毛細管口突然膨脹降溫而變成液體，再將此液體導人杜瓦瓶中。

(3)利用半導體致冷或脈管致冷、熱聲制冷等新型的微型制冷裝置。